背板主機殼測試W 3504 及 W 3525測試系統用於中尺寸至超大背板及軌道。
可管理多數量接點的測試，在極短時間內可測試高達 300,000測試點。
將測試點整合至可移動式daisy-chain cartridges避免複雜及出錯之狀況，達到高精確度，它也可以達到快速，自動接點及造成較高產量。
規格
測試&量測性能-最大電壓40VDC (12-Bit 解析度)
-恆定電流1mA, 10mA, 或100mA
-通路閥值可低至0.3 Ohms (± 2% ± 0.15 Ohms)
-絕緣閥值可達10 MOhm (± 1%), 及 40 MOhms (± 3%)
-電阻測試從0.3 Ohms 至 40 MOhms (± 3% ± 0.15 Ohms)
-電容器測試從20 nF 至 40,000 µF (± 10% ± 10 nF)
-二極體及稽納二極體測試作開路，短路及反向插入
-按鍵及開關器之測試
硬體
-外裝模組有32, 128, 192 或 256測試點
-使用PCI介面連接至PC (包含介面線)
-可擴充至307,200測試點
-選配的遠端遙控介面作為驅動外部裝置(饋線及治具等)
尺寸 & 重量
-19吋Rack-Mount 附輪機箱
-21.7x19.7x23.6英吋 (W x D x H)
-110 lbs
特點
快速測試速度並同時達到精準度-透過單一電晶體達到快速測試 (單一點切換矩陣)
-透過減少測試點及待測物之間的複雜接線及接頭，以達到高精準度
在測試系統配置上有較多的變化
-多種測試點模組: 提供32，128，192，或256測試點
-選配附有測試點卡的擴充機台
可針對現有製造系統作到理想客製化
-根據接點及搭配插頭的數量，daisy-chain cartridges的客製化配置
-透過單一電晶體達到快速測試 (單一點切換矩陣)
-透過減少測試點及待測物之間的複雜接線及接頭，以達到高精準度
在測試系統配置上有較多的變化
-多種測試點模組: 提供32，128，192，或256測試點
-選配附有測試點卡的擴充機台
可針對現有製造系統作到理想客製化
-根據接點及搭配插頭的數量，daisy-chain cartridges的客製化配置